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瀝青SBS檢測儀是用傅立葉變換紅外光譜儀滿(mǎn)足測試，傅立葉紅外光譜儀引進(jìn)了的技術(shù)并借鑒了當今先進(jìn)的設計理念，其產(chǎn)品性能及主要技術(shù)指標已達到國際同類(lèi)產(chǎn)品的水平。

SS-LZH-13 連續光學(xué)傳遞函數測量?jì)x，為了測量傳遞函數,因連續可變的條紋間隙所產(chǎn)生的干涉圖可用作可撓光的圖靶。精確靶的產(chǎn)生,正弦,或方形波,或用在光學(xué)部件的躍變對于評定部件的調制傳遞函數和相位傳遞函數都是必須；光學(xué)系統的成像過(guò)程研究和像質(zhì)評價(jià)是光學(xué)信息處理的重要內容。而基于頻譜分析方法和線(xiàn)性系統的光學(xué)傳遞函數，通過(guò)表征光學(xué)系統對不同空間頻率的目標的傳遞性能，能客觀(guān)有效地分析整套光學(xué)系統的信息

SS-LZH-11聯(lián)合傅立葉變換相關(guān)圖像識別及信息光學(xué)實(shí)驗系統。傅里葉變換相關(guān)圖像識別技術(shù)在指紋識別、字符識別、目標識別等領(lǐng)域已逐步進(jìn)入實(shí)用化階段。而聯(lián)合傅立葉變換相關(guān)圖像識別中以空間光調制器實(shí)現光電混合處理為最關(guān)鍵，本實(shí)驗就以此展開(kāi)具體研究信息光學(xué)中，信息的分析與處理是其重要的組成部分。

SS-LZH-9光學(xué)傳遞函數測量及像質(zhì)評價(jià)實(shí)驗儀光學(xué)傳遞函數是表征光學(xué)系統對不同空間頻率的目標函數的傳遞性能，是評價(jià)光學(xué)系統的指標之一。它將傅里葉變換這種數學(xué)工具引入應用光學(xué)領(lǐng)域，從而使像質(zhì)評價(jià)有了數學(xué)依據。由此人們可以把物體成像看作光能量在像平面上的再分配，也可以把光學(xué)系統看成對空間頻率的低通濾波器，并通過(guò)頻譜分析對光學(xué)系統成像質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)。到現在為止，光學(xué)傳遞函數成為了像質(zhì)評價(jià)的一種主要方法。

SS-LZH-4A 液晶電光效應綜合實(shí)驗儀，本實(shí)驗系統便于學(xué)生從實(shí)驗現象中更形象地認識信息光學(xué)中廣泛使用的空間光調制器，即液晶光閥的工作原理，加深對全息尤其是計算全息基本概念和基本性質(zhì)的理解，為今后更深入的學(xué)習奠定基礎。

SS-LPZ-1 電光聲光磁光效應綜合實(shí)驗系統，晶體在電場(chǎng)、磁場(chǎng)、應力的作用下會(huì )產(chǎn)生雙折射效應，利用此效應可以測量相關(guān)物理量，也可以實(shí)現對光的相位和強度進(jìn)行調制；晶體的電光、聲光、磁光相應是常見(jiàn)的調制現象，本公司將這些知識點(diǎn)融合在一起，便于學(xué)習和操作。

SS-LGS-7A 多用途電驅型干涉儀控制系統，可以開(kāi)展諸多實(shí)驗內容，如邁克爾遜干涉實(shí)驗、法布里-珀羅式干涉實(shí)驗和泰曼-格林干涉實(shí)驗，同時(shí)可以增加壓電陶瓷部件，增做壓電陶瓷的壓電特性進(jìn)行觀(guān)察和研究，掌握壓電陶瓷的特性和微小位移的測量；一體化的結構設計大大提高實(shí)驗操作性和效率性；模塊式自組式光學(xué)部件和系統，高度讓操作者充分融入實(shí)驗之中，體驗實(shí)驗的過(guò)程和結構，大大加深對實(shí)驗的理解和認知。

SS-LGS-6 精密干涉儀本款精密干涉儀可開(kāi)展邁克耳遜干涉，法布里-珀咯干涉，棱鏡干涉和透鏡干涉實(shí)驗。儀器設計精巧，一體化結構能大大減少實(shí)驗調整時(shí)間，提高實(shí)驗效率，同時(shí)所有結構件固定在厚重小平臺上，能有效的防止震動(dòng)對實(shí)驗的影響。邁克耳遜，法布里-珀羅，棱鏡干涉和透鏡干涉四種模式之間可以方便地轉換，操作簡(jiǎn)潔，結果精確，實(shí)驗內容豐富，是開(kāi)展組合干涉實(shí)驗的理想儀器

SS-LGS-4C 線(xiàn)熱膨脹系數實(shí)驗儀該儀器采用電熱法加熱，是對固體線(xiàn)熱膨脹系數的一種精密測定儀器，可對各種固體的熱膨脹冷縮的特性做出定量檢測；利用金屬試樣的線(xiàn)膨脹帶動(dòng)平面鏡，邁克耳遜干涉光路因光程差變化導致干涉條紋變化，測出試樣的長(cháng)度變化量，進(jìn)而測得線(xiàn)膨脹系數。與蒸汽加熱-光杠桿等方法相比，具有體積小，試樣短，功耗小，準確度高的優(yōu)點(diǎn)。

SS-LFY-13 卷積定理光學(xué)實(shí)驗儀。卷積定理也稱(chēng)卷積特性，是傅里葉變換的基本性質(zhì)之一，它由兩部分廣泛應用于通信系統和信號處理研究領(lǐng)域。它由兩部分組成：一是時(shí)域卷積定理；二是頻域卷積定理。兩個(gè)函數乘積的傅立葉變換，等于它們各自的傅立葉變換的卷積。反之，兩個(gè)函數卷積的傅立葉變換，等于它們各自傅立葉變換的乘積。本實(shí)驗主要通過(guò)光學(xué)方法來(lái)研究卷積定理。